Author(s):
De hoogste resolutie ooit in (S)TEM-elektronenmicroscopie-beelden is behaald met een nieuw instrument dat is ontwikkeld door een samenwerkingsverband van FEI Company in Eindhoven, laboratoria van het Amerikaanse Department of Energy (DoE) en het Duitse CEOS. Deze doorbraak in de elektronenmicroscopie – waarbij structuren zichtbaar zijn gemaakt van 0,5 Ångström en kleiner – is het resultaat van het TEAM-project (Transmission Electron Aberration-corrected Microscope) van DoE.